據(jù)英國媒體報道，妊娠早期（特別是懷孕頭3個月）發(fā)高燒，容易導(dǎo)致胎兒心臟和面部缺陷。

美國杜克大學(xué)研究員、新生兒學(xué)專家艾瑞克·J·本納博士及其研究團隊發(fā)現(xiàn)，孕婦在妊娠早期發(fā)高燒本身就是導(dǎo)致胎兒唇腭裂（又稱兔唇）的一個關(guān)鍵原因。

研究人員研制出一種非侵入性磁力技術(shù)，利用該技術(shù)可創(chuàng)建高燒模式。進入模擬高燒模式后，胚胎就會出現(xiàn)顱骨面部畸形以及心臟缺陷等趨勢，缺陷類型取決于高燒發(fā)生在心臟、頭顱和面部發(fā)育的具體時間段。

研究人員尚不清楚孕婦早期高燒導(dǎo)致胎兒缺陷的嚴(yán)重程度和持續(xù)時間。自上世紀(jì)80年代初以來，科學(xué)家就已經(jīng)知道新生兒出生缺陷與母親孕期高燒存在關(guān)聯(lián)，但是其具體機理卻一直是不解之謎。新研究結(jié)果表明，應(yīng)該讓更多的育齡女性明白孕期高燒是新生兒缺陷的一大風(fēng)險因素。孕期發(fā)高燒應(yīng)及時就醫(yī)，切勿咬牙硬扛。

（原標(biāo)題：孕婦早期高燒傷害胎兒臉部）